| 製品名: | 自動車検査用ガントリー式三次元測定機CMM | モデル: | ゼオン |
|---|---|---|---|
| MPEe: | ≦2.0+L/350(μm) | MPEp: | 2.0μm |
| ワランティ: | 12ヶ月 | アドバンテージ: | 安定した構造、広い範囲 |
| ハイライト: | ガントリー タイプ座標の測定機械,CMM等位の測定機械およびシステム,ISOの座標の測定機械 |
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Xe シリーズのゲントリー型三座標測定器は,オーバーヘッドレーザー構造設計を備えています.高精度の性能を保証し,ジャックや複雑な部品構造を測定するのに最適です任意のトリガー探査機,アナログスキャン探査機,または様々な測定要件を満たすスキャン探査機で利用できます.
このシステムは,大規模な構造部品を扱う企業に効果的なソリューションを提供し,様々な産業用アプリケーションにおける困難な測定問題を解決します.
| 製品シリーズ | X 軸移動 (mm) | Y軸移動 (mm) | Z 軸 移動 (mm) | MPEe 正確さ | MPEp 精度 |
|---|---|---|---|---|---|
| Xe18002000,2500 | 2000年から2000年まで | 1500 | 1500 | 2.0+L/350μm | 2.0μm |
| Xe 30004000,5000 | 2500から6000 | 1800 | 1800 | 2.0+L/350μm | 2.0μm |
| Xe 2500,3000,4000 | 2500から6000 | 2000 | 2000 | 2.0+L/350μm | 2.0μm |
| Xe 2500,3000,4000 | 2500から8000 | 2500 | 2500 | 2.0+L/350μm | 2.0μm |
| Xe 30004000,5000 | 3500~8000 | 3000 | 3000 | 2.0+L/350μm | 2.0μm |
| Xe 50006000 | 5000から8000 | 4000 | 4000 | 2.0+L/350μm | 2.0μm |
ソフトウェアシステム:Rational-DMIS アドバンスト バージョン (CAD) 手動とディスク付き
制御システム:MCU ジョイスティック付きのRENISHAW制御システム
探査オプション:RENISHAW MH20i/MCP/PH10T+TP20/PH10M+TP200/PH10M+SP25M/PH10MQ+SP25M
探査器のスタイラスレニショー M2 M3 スタイラス
高重複性: 一方向重複性 ≤1μm
Rational-DMISは,初心者と高度なユーザの両方を念頭に置いて開発された包括的な3D測定ソフトウェアパッケージである.ソフトウェアにはネイティブのDMISカーネル (バージョン 5.0) が搭載されている.0) ISO 規格 22093 に適合する:2003CMM測定ソフトウェアの標準を設定する.