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0.05ppmの精度と1nmの分解能を備えたレーザー干渉計測定システム

基本情報
起源の場所: 中国
ブランド名: UNIMETRO/CHOTEST
証明: CE
モデル番号: SJ6000
最小注文数量: 1SET
価格: Discussible
パッケージの詳細: 紙箱
支払条件: T/T
供給の能力: 100かのセット月
詳細情報
製品名: SJ6000レーザーの干渉計の測定システム 線形測定範囲: 0~80m
解決: 1nm レーザーの頻度正確さ: 0.05ppm
動作温度:: (0-40の) ℃ 動的捕獲率:: 50KHz
ハイライト:

単調レーザーの干渉計

,

0.05ppm測定器

,

1nm決断の測定器


製品の説明

レーザーインターフェロメーター測定システム 精度0.05ppmと解像度1nm
製品概要

レーザー干渉計は,高精度,高感度測定方法として認識されており,高級製造分野では光波長を基準として広く使用されています.SJ6000レーザーインターフェロメーターシステムには,アメリカのサプライヤーの高周波ヘリウム-ネオンレーザー発電機が組み込まれています高精度な環境補償モジュール 高度なレーザー干渉信号処理 高性能なコンピュータ制御システム

レーザーの二次長度モードと幾何学的パラメータの干渉光路設計の熱周波数安定化技術を利用して,SJ6000は長期にわたって安定した高精度 (0.05ppm) レーザー出力が迅速 (約6分) で,強力な反干渉性能を備えています.異なるプリズマモジュールで,線形性,角度,直直性,平面性,垂直性ダイナミック・特徴を分析する.

主要な機能
  • 高精度測定:高精度な環境補償により,環境温度,圧力,湿度,材料の温度レーザー熱周波数安定化により,長期間の周波数安定が保証される. 分離されたインターフェロスコープ設計により,熱歪み防止され,インターフェロンによる光路安定が保証される.
  • 総合的な測定能力:線形,角,直直,垂直等を測定する;CNC機械のガイドレールの線形位置付け精度と重複位置付け精度を測定する,調整計測機,その他の精密動作装置; 導線のピッチ角度,スイング角度,垂直度,直直度を測定する; 機械ツールの回転軸を校正する.
  • 自動補償:システムでは,ユーザの設定に基づいて,機械工具の校正のためのエラー補償表を自動的に生成します.
  • ダイナミック分析動的測定 (移動時間曲線,速度時間曲線,加速時間曲線),振幅測定と周波数分析,機械機器の振動試験ボールスクリューの動的特性駆動システムの反応特性,ガイドレールの動的特性
  • 組み込み標準:国内および国際規格 (GB,ISO,BS,ANSI,DIN,JIS) を含む.システムでは,関連する基準に従ってデータを分析し処理し,対応するチャートとデータを含む試験報告を作成します..
  • 環境パラメータ取得:環境温度,材料温度,湿度,大気圧のパラメータを自動的に取得します.環境補償は手動または自動的に設定できます.
  • データベース管理:対象タイプ,試験機関,製造番号,検査官,提出機関,機器番号による,問い合わせ機能を持つ測定記録のための集中データベース管理検査日及び有効日; Word,Excel,AutoCAD (オプション) ファイルへのデータ輸出
  • ポータブルデザイン:基本重量は15kgで,便宜な持ち運びと安装が容易です.
テクニカルパラメータ
システムパラメータ
パラメータ 仕様
測定方法 単周波数
レーザー周波数精度 0.05ppm
ダイナミック捕獲率 50kHz
温める時間 約6分
動作温度 (0−40) °C
環境条件 温度: (0~40)°C 湿度: 0~95%
保存温度 -20°Cから70°C
環境センサー
センサータイプ 仕様
大気温センサー ±0.1°C (0−40)°C,解像度:0.01°C
材料温度センサー ±0.1°C (0−40)°C,解像度:0.01°C
大気湿度センサー ±5% (0~95%)
大気圧センサー ±0.1kPa (65〜115) kPa
線形測定
パラメータ 仕様
測定範囲 (0〜80)m
測定精度 00.5ppm (0−40)°C
測定解像度 1nm
最大測定速度 4m/s
角度測定
パラメータ 仕様
軸域 (0-15) m
測定範囲 ±10°
精度 ±(0.02%R+0.1+0.24M) ′′ (R は値を示し,単位: ′′; M は長さを m で測定する)
測定解像度 0.1′′
平面度測定
パラメータ 仕様
軸域 (0-15) m
平面度測定範囲 ±1.5mm
精度 ±(0.2%R+0.02M2)μm (R は μm で表示される値で,M は m で測定された長さ)
基板の大きさ 180mm 調節可能 360mm 調節可能
測定解像度 0.1μm
ストレート度測定
タイプ 軸の範囲 測定範囲 精度 決議
短直さ (0.1-4) m ±3.0mm ± ((0.5+0.25%R+0.15M2) μm 0.01μm
長直さ (1-20m) ±3.0mm ± ((5.0+2.5%R+0.015M2) μm 0.01μm
注: R は μm で表示される値で,M はメートルで測定された長さです.
垂直性測定
タイプ 軸の範囲 測定範囲 精度 決議
短直さ (0.1-3) m ±3.0mm ±2.5+0.25%R+0.8M) μm/m 0.01μm
長直さ (1〜15)m ±3.0mm ± ((2.5+2.5%R+0.08M) μm/m 0.01μm
注: R は μm で表示される値で,M はメートルで測定された長さです.

連絡先の詳細
Henry Wong

電話番号 : 0086 137 0232 7661

WhatsApp : +8613702327661